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万濠投影仪 CPJ-3015 光学轮廓测量

型号:CPJ-3015Z

更新时间:2024-06-18

简要描述:

万濠投影仪 CPJ-3015 光学轮廓测量投影机立式投影仪的工件影像可以是正像也可以为倒像,测量简易直观,率高。仪器光学质量优良,物镜成清晰,放大倍率。在透射光照明下,轮廓测量误差小于0.08%。数字式测量投影仪广泛用于机械、仪表、电子、轻工等行业院校、研究所、计量检定部门。数字式测量投影仪能各种形状复杂工件的轮廓尺寸和表面形状,如样板、冲压件、凸轮、螺纹

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详细介绍
品牌RATIONAL/万濠价格区间1.5万-2万
产地类别国产应用领域综合

万濠投影仪 CPJ-3015 光学轮廓测量


简介:CPJ-3015数字式测量投影仪是光、机、电体化的密测量仪器。立式投影仪的工件影像可以是正像也可以为倒像,测量简易直观,率高。仪器光学质量优良,物镜成清晰,放大倍率。在透射光照明下,轮廓测量误差小于0.08%。数字式测量投影仪广泛用于机械、仪表、电子、轻工等行业院校、研究所、计量检定部门。数字式测量投影仪能各种形状复杂工件的轮廓尺寸和表面形状,如样板、冲压件、凸轮、螺纹、齿轮、成形铣刀等。

特点:
CPJ-3000/3000Z系列数字式测量投影仪结构紧凑,外形简洁美观,经济实用,可靠性好,它能够高效的对工件进行直接测量和比较测量,例如:冲压件、齿轮、螺纹、刀具等。在机械制造、电子、模具、仪器仪表和钟表等行业都得到了广泛的应用。


技术参数:

型号

反像型
正像型

CPJ-3010
CPJ-3010Z

CPJ-3015
CPJ-3015Z

X轴坐标行程 (mm)

100

150

Y轴坐标行程 (mm)

50

50

金属台面尺寸 (mm)

306×152

340×152

玻璃台面尺寸 (mm)

175×100

196×96

X、Y轴坐标分辨力(μm)

0.5

示值误差 (μm)

E1XY=(2.5+L/75)

Z轴坐标行程 (mm)

90 (调焦)

仪器重量 (kg)

125

130

外形尺寸 (mm)

770×550×1100

770×550×1100

投影屏

尺寸 (mm)

Ф 312,使用范围>Ф300(刻有米字线)

旋转范围

0~360°

旋转分辨力

1’ 或 0.01°

            物镜

放大倍数

10× (选)

20× (选)

50× (选)

100× (选)

物方视场 (mm)

Ф30

Ф15

Ф6

Ф3

工作距离 (mm)

77.7

44.3

38.4

25.3

测量高度 (mm)

80

仪器电源: AC 100-240V 50/60Hz,总功率: 400W

DC-3000适用于数字化光栅测量系统及视频测量系统。对二维测量的数据进行分析处理,广泛应用于投影仪、工具显微镜、CCD影像仪等二维测量仪器。
点:

电源抗干扰能力和信号抗干扰能力达到2200V以上

无需电池,停电后记忆当前位置

宽电压输入范围,输入电压AC 90V~240V,都能正常工作

采用24位计数IC,0.001mm分辨率时计数速度达4m/s

功能:

点、线、圆、角度、距离、矩形和螺纹等图形元素的测量、预置和构造

坐标摆正和坐标平移,方便摆正工件,减少调整时间

接脚踏开关或光学寻边器,采点方便快捷

打印功能,打印用户程序、图形元素和三轴的显示值

RS-232输出功能,将当前光栅尺的显示值输出到电脑上

用户程序,用户可记录测量工件的作步骤并运行,批量测量同种工件*快捷

多种坐标显示方式:坐标和直角坐标、INC坐标和ABS坐标、公制和英制

对光栅尺可进行线性补偿或区段线性补偿

Z轴可接光栅尺或旋转编码器

存储100个图形元素和10个暂存元素
技术规格参数:

输入电压

AC90V-240V

功率

小于15W

输入信号

正交TTL方波 频率<2MHZ 电流>1mA

分辨率

0.1、0.2、0.5、1、2、5、10

重量

1.8kg

外形尺寸

296X184X68 (mm)

濠数显表与同类产品对比

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开关电源

自主设计开关电源
元器件采用品牌(对易损坏的高压电容器件采用品牌黑金刚(NCC),长时间工作稳定可靠,后期维修成本低

大多数采用国内元器件

计数模块

采用24位计数芯片(GIE120703),整合数字滤波技术,经市场近20年验证,计数稳定,抗干扰能力

般采用FPGA

软件

系列数显表软件都已进行软件著作权的登记,并经过多次严格测试,稳定可靠

未知

抗干扰能力

按标准执行
脉冲群干扰2kV以上
有标准的实验设备

未知

生程过程管控

生程过程管控
每台都经过严格的测试和老化,长时工作稳定性、可靠性

未知

万濠投影仪 CPJ-3015 光学轮廓测量



 


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