光学型：
投影仪测长仪：通过将被测物体的影像投射到测量屏幕上，并利用测量屏幕上的刻度尺或标尺进行测量。投影仪测长仪通常包括光源、物镜、透镜、刻度尺和测量屏幕等组件。光源发出光线，经过物镜和透镜聚焦后，形成被测物体的影像投射到测量屏幕上。利用刻度尺或标尺上的刻度，可以测量被测物体的长度或距离。
显微镜测长仪：通过显微镜的放大功能进行测量。它通常由显微镜、物镜、目镜、刻度尺和测量台等组件组成。被测物体放置在测量台上，通过显微镜观察被测物体，并利用刻度尺或标尺上的刻度进行测量。显微镜测长仪的测量精度通常较高，适用于对微小物体进行测量。
激光型：
时间测量：激光测长仪通过测量激光束从发射到接收所需的时间来计算距离。它通常包括激光发射器、激光接收器和计时器等组件。激光发射器发射激光束，经过被测物体反射后被激光接收器接收。计时器测量激光束从发射到接收所需的时间，通过速度和时间的关系计算出距离。
干涉测量：激光型新天测长仪JD25-C通过测量激光束的干涉来计算距离。它通常包括激光发射器、激光接收器、干涉仪和探测器等组件。激光发射器发射激光束，经过被测物体反射后与参考光束干涉。干涉仪检测干涉信号，并通过信号处理计算出距离。干涉测量利用了光的波动特性，当光线经过两条光路再次相遇时，如果两条光路长度相差一个波长的整数倍，就会出现干涉现象。通过测量干涉条纹的间距，可以推导出物体的长度。
